LRAC-Orçamentos, Análises ou Dúvidas Técnicas
(FO-001R02-Requisição de serviços)
Solicitante:
E-mail:
Tel.:
Orientador/Empresa:
E-mail:
Tel.:
Assunto:
Análise
Dúvida
Orçamento
Origem:
FEQ
Inst. Ensino/Pesquisa
Empresa/Particular
Objetivo:
Condição de Armazenamento:
--- selecione ---
ambiente
refrigerada
dessecador
ultafreezer -80ºC
outro
Especifique:
Periculosidade/Toxicidade das amostras:
--- selecione ---
inerte
tóxica
explosiva
cancerígena
radioativa
antirretroviral
outro
Especifique:
Técnica Analítica:
Não sei qual técnica utilizar
-- selecione --
AF-ASAP (BET) - Adsorção Física
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
AFM - Microscopia de Força Atômica
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Biomassa - Caracterização Estrutural (% de Extrativos, Celulose, Hemicelulose, Lignina e Cinzas)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
CG - Cromatografia Gasosa
(indisponível)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
CHNS - Analisador Elementar de C, H, N e S
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
CI - Cromatografia de Íons
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
DMA - Analisador Dinâmico Mecânico
(indisponível)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
DRX - Difração de Raios X
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
DSC - Calorimetria Exploratória Diferencial
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
FEG/EDS - Microscopia Eletrônica de Alta Resolução e Espectroscopia Dispersiva de Energia de Raios X
(indisponível)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
FT-IR - Espectroscopia no Infravermelho
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
GPC - Cromatografia de Permeação em Gel
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
HPLC - Cromatografia Líquida
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Liof - Liofilização
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
MEV/EDS - Microscopia Eletrônica de Varredura e Espectroscopia Dispersiva de Energia de Raios X
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
MO - Microscopia Óptica
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Moa - Moagem (Moinho de facas)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
MS - Mastersizer, Distribuição Tamanho Partícula por Difração de Laser
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
PCS - Poder Calorífico Superior
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Pen - Peneiramento
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
PIC - Picnometria à Gás He e Picnometria Convencional
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Preparo - (preparo, metalização, centrifugação, prensagens, cortes metalográficos, pesagens, etc)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Sec - Estufa e Mufla (condicionamento, umidade, cinzas, calcinação)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Sox - Extração por Soxhlet
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
TGA - Analisador Termogravimétrico
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
TGA_M - Análise Termogravimétrica Macro (umidade, voláteis médios, C-fixo e cinzas)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
UV-Vis - Espectroscopia no Ultravioleta-Visível
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
XPS - Espectroscopia de Fotoelétrons por Raio X
(indisponível)
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
XRF - Florescência de Raios X
Nº de Amostras:
Descrição simples das amostras:
Método/Condição de Análise - Observações:
Resíduo da Análise:
Retirar
Descartar após Análise
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